キヤノンの顔認証技術が世界トップクラスに – NISTのベンチマークテストで

2017-08-24_00h03_35 IT総合
キヤノンは12月27日、米国国立標準技術研究所(NIST、National Institute of Standards and Technology)が主催する顔認証ベンチマークテストにおいて、日本

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