直射日光の下でもパターン投影で高速に動く物体の形状計測が可能に – 産総研が通信技術を応用して実現 IT総合 2017.07.19 産業技術総合研究所(産総研)は、直射日光のような強い外乱光がある環境でも、ダイナミックな動きがある対象物の動きや変形といった物体の形状変化を高速に計測する手法を開発したと発表した。同成果は、産総研リンク元
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