NTTなど、中性子が起こす半導体の「ソフトエラー発生率」の実測に成功

NTT、名古屋大学(名大)、北海道大学(北大)の3者は11月25日、中性子の持つエネルギーごとの「半導体ソフトエラー発生率」を連続的なデータとして実測することに成功し、その全貌を明らかにしたと共同で発

リンク元