集束イオンビーム加工観察装置JIB-4000PLUSを販売開始　～自動TEM試料作製機能、最大照射電流 90nAを備えたハイスループットFIB～

日本電子株式会社(代表取締役社長：栗原 権右衛門)は、新型の集束イオンビーム加工観察装置(FIB)JIB-4000PLUSを開発し、2019年1月より販売を開始しました。<br />
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