150℃の耐環境下でデータ保持時間を従来比100万倍に延ばせる1Xnm世代向け高信頼MTJを開発

2017-08-24_00h03_35 マーケティング
1Xnm世代向け高耐性・高信頼MTJを開発


指定国立大学法人東北大学国際集積エレクトロニクス研究開発センター(CIES)の遠藤哲郎センター長のグループは、従来技術による磁気トンネル接合(MT

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